« Multicolor трассировка лучей СИД совмещенная с 2-ым Технология обработки изображения Purkinje Повторимость оси не позднее 3 градуса Ряд 4.00D Diopter – 171.00D K-значения дисплея согласно с \ зоны 3/5 \/7 \/9 mm Мгновенный автоматический захватывать Параметр качественного фактора измерения Топографические индексы: Сформируйте фактор, ексцентриситет, Asphericity, форм-фактор Индексы Keratoconus: Поверхностный индекс асимметрии, Поверхностный индекс закономерности Точность субмикрона должная для того чтобы покрасить триангулирование СИД технология 0.8µm Программы Pupillometry - мезопические & фотопические Фотография HD внешняя окулярная Топографические карты: Осевой, рефрактивный, касательный, Высота, записанное изображение и высокие аберрации заказа Множественные варианты масштаба цвета Включаемая терпеливая программа управления Взаимодействие: Secondlasers Femto, системы наведения, Toric калькуляторы IOL, USB, сразу печать, PDF, JPG, PNG, Exce \ /html»