Особенности Атомный разрешающий аналитический микроскоп JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Выпущен новый электронный микроскоп с атомным разрешением! Обновлен "GRAND ARM™2". Новый "GRAND ARM™2" позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением с высокочувствительным анализом в широком диапазоне ускоренных напряжений. Новая разработка FHP2 - полюсный элемент объектива Полюсный фрагмент объектива FHP оптимизирован для наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением. При сохранении этой возможности форма полюсного фрагмента была дополнительно оптимизирована для телесного угла рентгеновского излучения и угла съемки крупногабаритных Dual SDD (158 мм2). В результате эффективность обнаружения рентгеновских лучей в FHP2 более чем в два раза выше, чем в FHP. Она может обеспечивать суб-ангстроматическое разрешение на элементарных картах ЭЦП Колонна TEM покрыта корпусом коробчатого типа, который может уменьшить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, воздушный поток, акустический шум и так далее, и после этого он улучшает стабильность микроскопа.ETA корректор & JEOL COSMO™ 阿ick & точная коррекция аберраций JEOL COSMO™ использует только 2 Ронхиграммы, полученные из любой аморфной области, для измерения и коррекции аберраций. Таким образом, система может обеспечить быструю и точную коррекцию аберраций без использования специальных образцов. Улучшение стабильности Новый электронный пистолет CFEG (Cold Field Emission electron Gun) принял меньший размер SIP с большим объемом эвакуации, чем раньше для GRAND ARM™2. Увеличение объема вакуумирования SIP улучшает степень вакуума вблизи излучателя внутри CFEG, а также улучшает стабильность эмиссионного и зондового токов.