Системы сканирующих рентгеновских зондовых микроскопов (СЗМ) Bruker Dimension включают в себя десятилетиями проводимые исследования и технологические инновации. Благодаря стандартному разрешению атомных дефектов и множеству уникальных технологий, включая PeakForce Tapping, режимы Data Cube, SECM и nanoDMA, они обеспечивают максимальную производительность и возможности. Семейство СПМ Dimension XR объединяет эти технологии в готовые решения для наномеханических, наноэлектрических и электрохимических применений. Количественный анализ материалов и активных наноразмерных систем в воздухе, жидкостях, электрических и химически активных средах еще никогда не был таким простым. Обычное высокое разрешение в воздухе и жидкости От точечных дефектов в жидкости, на карте жесткости, до атомного разрешения в воздухе, на карте проводимости, Dimension XR обеспечивает наивысшее разрешение во всех измерениях. В основе Dimension XR лежит запатентованная Bruker технология PeakForce Tapping, позволяющая достигать эталонных показателей производительности как для твердых, так и для мягких материалов, включая разрешение кристаллических дефектов, молекулярные дефекты в полимерах и небольшую канавку структуры двойной спирали ДНК. Эта же технология играет не менее важную роль в разрешении мельчайших притязаний на шероховатом стекле на сотнях изображений. Dimension XR сочетает в себе PeakForce Tapping с экстремальной стабильностью, уникальную технологию зондов и многолетний опыт Bruker в разработке систем сканирования наконечников. Результатом является стабильное получение изображений с высочайшим разрешением, полностью независимо от размера образца, веса или среды - и для любой области применения.